年龄测试

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什么是年龄测试？

它是一种评估系统未来执行能力的测试技术，通常由测试团队执行。随着系统老化，性能可能下降的程度是年龄测试中所测量的。

让我们也了解一下缺陷年龄的概念。它通过两个参数来衡量：

1. Phases
2. Time 

缺陷年龄 - 阶段：

阶段中的缺陷年龄定义为缺陷注入阶段和缺陷检测阶段之间的差异。

参数：

1.“缺陷注入阶段”是软件开发生命周期中引入缺陷的阶段。

2.“缺陷检测阶段”是软件开发生命周期中缺陷被查明的阶段。

公式：

Defect Age in Phase = Defect Detection Phase - Defect Injection Phase

例子：

考虑一下，我们采用的 SDLC 方法有以下几个阶段：

1. 需求开发

2. 设计

3. 编码

4. 单元测试

5. 集成测试

6. 系统测试

7. 验收测试，如果在单元测试 (4) 中识别出缺陷，并且该缺陷是在开发的设计阶段 (2) 中引入的，则缺陷年龄为 (4)-(2) = 2。

缺陷年龄 - 时间：

缺陷年龄定义为缺陷检测日期与当前日期之间的时间差，前提是该缺陷仍处于开放状态。

参数：

1. 缺陷处于“打开”和“已分配”状态，而不仅仅是“新”状态。

2. 不考虑因“不可重现”或“重复”而处于“已关闭”状态的缺陷。

3. 根据缺陷开放日期和当前日期计算天数或小时数的差异。

公式：

Defect Age in Time = Defect Fix Date (OR) Current Date - Defect Detection Date

例子：

如果缺陷于 05/05/2013 11:30:00 AM 检测到并于 23/05/2013 12:00:00 PM 关闭，则缺陷年龄将计算如下。

Defect Age in Days = 05/05/2013 11:30:00 AM - 23/05/2013 12:00:00 PM
Defect Age in Days = 19 days

结果：

为了评估每个阶段和任何审查/测试活动的有效性，缺陷年龄越小，有效性越好。