测量和模型


模型对于解释现实世界实体的数值元素的Behave以及测量它们非常有用。为了帮助测量过程,映射模型还应该补充映射域模型。模型还应指定这些实体如何与属性相关以及特征如何相关。

测量有两种类型 -

  • 直接测量
  • 间接测量

直接测量

这些是可以在不涉及任何其他实体或属性的情况下进行测量的测量值。

软件工程中常用以下直接措施。

  • 按 LOC 的源代码长度
  • 按已用时间划分的测试目的持续时间
  • 通过计数缺陷在测试过程中发现的缺陷数量
  • 程序员花在程序上的时间

间接测量

这些是可以根据任何其他实体或属性来测量的测量值。

软件工程中常用以下间接措施。

$$\小程序员\:生产力 = \frac{LOC \: 产生的}{人\:月\:努力}$$

$\小模块缺陷密度 = \frac{缺陷数量}{模块大小}$

$$\小缺陷检测效率 = \frac{检测到的缺陷数量}{缺陷总数}$$

$\小要求稳定性 = \frac{初始要求数量}{总要求数量}$

$\小测试有效性比率 = \frac{覆盖的项目数}{项目总数}$

$\小系统损坏 = \frac{修复故障所花费的努力}{项目总努力}$

预测测量

为了向项目分配适当的资源,我们需要预测开发项目的工作量、时间和成本。预测的测量总是需要一个数学模型,将要预测的属性与我们现在可以测量的其他属性联系起来。因此,预测系统由数学模型和一组用于确定未知参数并解释结果的预测程序组成。